專利匯可以提供一種基于PEDOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片及其制備方法專利檢索,專利查詢,專利分析的服務(wù)。并且本 發(fā)明 屬于微流控芯片的技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種集成PDEOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片及其原位制備方法;所要解決的技術(shù)問題為:提供一種兼具成本優(yōu)勢與性能優(yōu)勢的PEDOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片及其制備方法;解決該技術(shù)問題采用的技術(shù)方案為:芯片包括基底,基底的上層沉積有 導線 層,導線層內(nèi)部設(shè)置有電氣 連接線 和基片pad;導線層的上層還沉積有絕緣層,絕緣層上設(shè)置有 電極 窗口;絕緣層上還沉積有微電極,微電極的一端裸露在絕緣層上,微電極的另一端穿過電極窗口與導線層連接;微電極包括源極、柵極、漏極;基底、導線層、絕緣層、電極窗口、微電極共同構(gòu)成基片,基片與PDMS蓋片通過機械或者物理化學方法鍵合在一起;本發(fā)明應(yīng)用于電化學晶體管的微流控芯片制備。,下面是一種基于PEDOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片及其制備方法專利的具體信息內(nèi)容。
1.一種基于PEDOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片,其特征在于:包括基底(1),所述基底(1)的上層沉積有導線層(2),所述導線層(2)設(shè)置有電氣連接線和基片pad;所述導線層(2)的上層還沉積有絕緣層(3),所述絕緣層(3)上設(shè)置有電極窗口(4);
所述絕緣層(3)上還沉積有微電極(5),所述微電極(5)的一端裸露在絕緣層(3)上,微電極(5)的另一端穿過電極窗口(4)與導線層(2)連接;
所述微電極(5)包括源極(6)、柵極(7)、漏極(8);
所述基底(1)、導線層(2)、絕緣層(3)、電極窗口(4)、微電極(5)共同構(gòu)成基片(20),所述基片(20)與PDMS蓋片(9)通過機械或者物理化學方法鍵合在一起;
所述PDMS蓋片(9)包括進液口(10)、流體輸運通道(11)、微型圓池(12)、出液口(13),所述進液口(10)位于PDMS蓋片(9)一側(cè),所述出液口(13)位于PDMS蓋片(9)的入口相對側(cè),所述進液口(10)、出液口(13)均通過流體輸運通道(11)與微型圓池(12)相連;
所述微電極(5)布置在微型圓池(12)的中央;
所述微電極的源極(6)、漏極(8)與柵極(7),相互之間呈三角形設(shè)置,其中源極(6)、漏極(8)水平放置,柵極(7)豎直放置;所述源極(6)和漏極(8)之間沉積有有機半導體膜(44)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于PEDOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片,其特征在于:所述源極(6)和漏極(8)具體為兩個相對的貴金屬微電極組成的微電極對,所述微電極對的間距由有機半導體膜(44)的形貌與結(jié)構(gòu)決定;
所述柵極(7)與有機半導體膜(44)的距離為源極(6)與漏極(8)間距的2-10倍;
所述源極(6)、柵極(7)、漏極(8)具體由金屬或?qū)щ娊饘?a href='/zhuanli/list-21453-1.html' target='_blank'>氧化物制作;
所述微電極中的源極(6)、柵極(7)、漏極(8)分別充當電化學晶體管的源極、柵極、漏極。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于PEDOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片,其特征在于:所述有機半導體膜(44)具體為,采用電化學方法制備的摻雜一種或多種表面活性劑的PEDOT:PSS。
4.一種基于PEDOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片制備方法,其特征在于:具體涉及一種微電極(5)加工制作方法,軟光刻技術(shù)制備PDMS蓋片(9)的方法,電化學沉積制備有機半導體膜(44),包括如下步驟:
S1:利用MEMS疊層工藝在基底(1)上制備微電極(5)包括:源極(6)、漏極(8)和柵極(7);
S2:設(shè)計制作PCB轉(zhuǎn)接板,用于芯片的固定;
S3:將S1加工的芯片轉(zhuǎn)接到PCB上,通過金絲球焊的方法將源極(6)、漏極(8)和柵極(7)的pad焊盤(15)與PCB板上的小焊盤連接;
S4:利用軟光刻技術(shù)制備PDMS蓋片(9);
S5:將S3得到的芯片與PDMS蓋片(9)鍵合,實現(xiàn)封裝;
S6:在溶劑中加入聚苯乙烯磺酸鈉?(PSS),以及3,4乙烯二氧噻吩?(EDOT)單體,以及摻雜劑充分攪拌混勻得到電解液;
S7:將電解液泵送至PDMS蓋片(9)中,使用電化學的方法在源極(6)和漏極(8)之間電化學沉積有機半導體膜(44),使預(yù)制的源極(6)和漏極(8)相互接觸;
S8:將電介質(zhì)溶液泵送至PDMS蓋片(9)中,使其充分與有機半導體膜(44)、柵極(7)接觸,進行電化學晶體管性能的測試。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于PEDOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片制備方法,其特征在于:所述步驟S1的具體過程為:
S101:將基底(1)浸泡于鉻酸24小時,并用去離子水清洗并烘干備用;在基底(1)上沉積第一層金屬層并通過光刻和lift-off工藝,形成用于引出各個電極的電氣連接線以及pad焊盤(15);
S102:沉積絕緣層(3)并刻蝕,形成與源極(6)、漏極(8)、柵極(7)以及pad焊盤(15)位置對應(yīng)的窗口;
S103:沉積第二層金屬層并通過光刻和lift-off工藝,形成源極(6)、漏極(8)和柵極(7);
S104:源極(6)、漏極(8)和柵極(7)通過電極窗口(4)內(nèi)的金屬與導線層(2)連接,并與pad焊盤(15)相連;
所述pad為矩形或正方形,最小邊長大于1mm;微電極(5)的長度與寬度均至少為2μm;
所述基底(1)可以為玻璃、二氧化硅等;
所述微電極(5)優(yōu)選的金屬材料為金、鉑、鈀等貴金屬或金屬氧化物。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種基于PEDOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片制備方法,其特征在于:所述步驟S2的具體過程為:
S201:用Altium?Designer?軟件設(shè)計PCB圖紙并提交給PCB生產(chǎn)廠家;
S202:將若干導線通過焊槍分別固定到大焊盤上;
所述PCB板上設(shè)置有多個大焊盤,以及通過印刷電路與大焊盤相連接的多個小焊盤。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種基于PEDOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片制備方法,其特征在于:所述步驟S4的具體過程為:
S401:將玻片浸泡于鉻酸24小時,并用去離子水清洗并烘干;
S402:將玻片用六甲基二硅烷(HDMS)硅烷化;
S403:使用甩膠機將光刻膠均勻旋涂于玻片上,隨后加熱若干時間,最后使其恢復(fù)至室溫;
S404:使用紫外光刻機進行曝光顯影,配套顯影液,得到光刻陽膜;
S405:將顯影后的陽膜清潔干凈;
S406:使用三甲基氯硅烷化試劑(TMCS)蒸汽處理陽膜,并用氮氣吹干;
S407:澆筑和旋涂PDMS;
S408:除去PDMS中的氣泡并使其固化;
S409:將固化的PDMS分離和打孔,得到PDMS蓋片(9)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種基于PEDOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片制備方法,其特征在于:所述步驟S5的具體過程為:
S501:將PDMS微型圓池(12)中央與源極(6)、漏極(8)之間的有機半導體膜(44)對準,同時將導線層(2)末端的Pad焊盤(15)裸露出來;
S502:將對準的PDMS蓋片(9)與基片(20)通過封裝工藝鍵合,進行封裝;
所述封裝工藝可以是熱壓法、熱和光催化粘合劑粘合法、有機溶劑粘合法、自然粘合法、氧等離子氧化封接法、紫外照射法、交聯(lián)劑調(diào)節(jié)法或機械加工法。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種基于PEDOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片制備方法,其特征在于:所述步驟S6的具體過程為:
S601:在容量瓶中加入適量溶劑;
S602:取定量的聚苯乙烯磺酸鈉(NaPSS)以及摻雜劑加入容量瓶中;
S603:向上述溶液中滴加定量EDOT單體,之后定容;不斷攪拌至完全溶解,得到所需要的電解液;
所述溶劑可以是水溶液、乙醇、乙腈或碳酸丙烯酯等有機溶液;所述的摻雜劑可以為石墨烯量子點、乙二醇、二甲基亞砜等;所述NaPSS濃度范圍為10mmol 0.5mol/L;所述EDOT單~
體濃度范圍為10mmol 0.5mol/L。
~
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種基于PEDOT:PSS電化學晶體管的微流控芯片制備方法,其特征在于:所述步驟S7的具體過程為:
S701:將電解液泵送至PDMS蓋片(9)內(nèi)的源極(6)和漏極(8)之間;
S702:使用電化學工作站在源漏極上施加電信號,使電解液發(fā)生聚合反應(yīng),形成有機半導體膜(44)連接源極(6)和漏極(8);
S703:將去離子水泵送至PDMS蓋片(9)中,將殘留的電解液沖洗干凈,然后在干燥箱中干燥;
所述電信號類型,具體可以采用方波、三角波和正弦波:
當采用方波交流信號時,電壓范圍為1.6V 6V,頻率為50Hz 2MHz;
~ ~
當采用三角波交流信號時,電壓范圍為1.6V 10V,頻率為200Hz 5MHz;
~ ~
當采用正弦波交流信號時,電壓范圍為1.6V 8V,頻率為50Hz 3MHz;
~ ~
所述步驟S8的具體過程為:
S801:將源極(6)、漏極(8)和柵極(7)的引線分別與半導體分析儀或數(shù)字源表相連接;
S802:將電介質(zhì)溶液泵送至有機半導體膜(44)和柵極(7)上,充分覆蓋有機半導體膜(44)和柵極(7);
S803:進行器件性能的測試;
S804:將去離子水泵送至PDMS蓋片(9)中,將殘留的電介質(zhì)溶液沖洗干凈,然后在干燥箱中干燥;
所述電介質(zhì)溶液可以為NaCl、KCl等離子水溶液或1-丁基-3-甲基咪唑苯甲酸鹽、1-烯丙基-3-甲基咪唑氯鹽、四丁基膦四氯鐵酸鹽、四丁基膦四氟硼酸鹽等離子液體。
方法
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